<th id="pnvvt"><ruby id="pnvvt"><ruby id="pnvvt"></ruby></ruby></th>
      <th id="pnvvt"></th>

      <form id="pnvvt"><output id="pnvvt"><delect id="pnvvt"></delect></output></form>

      <noframes id="pnvvt">

      <b id="pnvvt"><del id="pnvvt"></del></b><form id="pnvvt"></form> <noframes id="pnvvt"><b id="pnvvt"><i id="pnvvt"></i></b>

        <th id="pnvvt"></th>

          全國統一熱線:400-808-4598
          產品展示您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 表面分析儀器 > TOF-SIMS離子質譜
          PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀
          PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀

          PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術,提供表面分子,元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素,包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上,該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率(在實踐中通常是大約 10000amu)。

          查看詳情
          共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
          COPYRIGHT @ 2016 上海禹重實業有限公司是國內專業的TOF-SIMS離子質譜廠家,歡迎廣大顧客來電咨詢!
          網站地圖    滬ICP備13042218號-3    關于我們 新聞中心 產品中心 聯系我們 管理登陸
          地址:上海市閔行區春申路2525號芭洛商務339室
          在線客服
          電話
          400-808-4598
          手機
          18117305890
          无码潮喷a片无码高潮
          <th id="pnvvt"><ruby id="pnvvt"><ruby id="pnvvt"></ruby></ruby></th>
              <th id="pnvvt"></th>

              <form id="pnvvt"><output id="pnvvt"><delect id="pnvvt"></delect></output></form>

              <noframes id="pnvvt">

              <b id="pnvvt"><del id="pnvvt"></del></b><form id="pnvvt"></form> <noframes id="pnvvt"><b id="pnvvt"><i id="pnvvt"></i></b>

                <th id="pnvvt"></th>